超聲波探傷檢測設(shè)備檢驗(yàn)規(guī)程
一、原材料檢驗(yàn)規(guī)程
序號(hào) | 名稱 | 檢驗(yàn)項(xiàng)目 | 技術(shù)要求 | 測試方法 |
1 | 晶片 | 外觀 | 平整，無破損 | 目測 |
中心頻率 | 探頭規(guī)定頻率+5%~10% | 探傷儀 | ||
脈沖占寬 | ＜15mm | 探傷儀或頻譜儀 | ||
帶寬 | ＞35% | 頻譜儀 | ||
2 | 斜塊 | 外觀 | 無毛刺、無破損 | 目測 |
聲速 | ＞2700 | 測厚儀 | ||
角度 | 符合規(guī)定角度要求 | 萬能角度尺 | ||
3 | 外殼 | 外觀 | 無毛刺、無破損 | 目測 |
尺寸 | ±0.1mm | 游標(biāo)卡尺 |
二、過程檢驗(yàn)規(guī)程
序號(hào) | 工序名稱 | 檢驗(yàn)方法 | 檢驗(yàn)項(xiàng)目及要求 |
1 | 晶片的挑選 | 目測 | 外觀：晶片是否粘牢，表面是否光潔、平整 |
2 | 裝配 | 目測 | 點(diǎn)焊：線頭焊牢固，無虛焊。 裝外殼、插座：底部是否平整。 澆注：是否均勻 點(diǎn)膠蓋板：是否粘牢。 |
3 | 包裝 | 目測 | 標(biāo)識(shí)齊全，外觀無破損 |
三、出廠檢驗(yàn)規(guī)程
序號(hào) | 檢驗(yàn)項(xiàng)目 | 技術(shù)要求 |
1 | 外觀 | 表面無缺陷及損傷 |
2 | 前沿 | ±2mm |
3 | 折射角 | 0° |
4 | 靈敏度 | 測量值的允許偏差不應(yīng)超過標(biāo)稱值的±3dB。 |
5 | 回波頻率 | 標(biāo)稱值的±10% |
6 | 始波占寬 | ≤15mm |
7 | 分辨率 | ≥20dB |
8 | 頻帶寬度 | 測量值的允許偏差不應(yīng)超過標(biāo)稱值的±10~20%。 |
9 | 入射點(diǎn)到缺陷水平距離 | 按實(shí)測值記錄 |
超聲波探傷檢測設(shè)備檢驗(yàn)規(guī)程
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